咨詢半導體集成電路模擬開關(guān)檢測服務(wù),，上百檢網(wǎng),。我們會為您安排半導體集成電路模擬開關(guān)檢測工程師對接，溝通半導體集成電路模擬開關(guān)檢測項目,、標準,、周期等，待方案確認后,，即可開始樣品檢測,，出具半導體集成電路模擬開關(guān)檢測報告真實有效，常規(guī)周期在3-15個工作日,，特殊項目需在方案制定時詳細確認,，歡迎咨詢。

檢測周期：常規(guī)3-15個工作日,，可加急（特殊樣品除外）

報告樣式：電子版,、紙質(zhì),，中、英文均可,。

報告資質(zhì)：CMA,、CNAS

半導體集成電路模擬開關(guān)檢測項目：

模擬電壓工作范圍,導通態(tài)漏電流IDS（on）,導通電阻Ron,導通電阻路差△Ron,截止態(tài)漏電流ID（off）,電源電流,導通電阻,導通電阻路差,截止態(tài)源極漏電流,截止態(tài)漏極漏電流,導通態(tài)漏電流,開啟時間/關(guān)斷時間,截止態(tài)漏極漏電流/截止態(tài)源極漏電流,導通態(tài)漏電流IDS(on),導通電阻路差ΔRon,截止態(tài)源級漏電流IS（off）,截止態(tài)漏極漏電流ID（off）,輸入低電平電流IIL,輸入高電平電流IIH,靜態(tài)工作電源電流IDD,功能測試,導通態(tài)漏電流IDS(on),導通電阻Ron,導通電阻路差△Ron,截止態(tài)源極漏電流IS(off),截止態(tài)漏極漏電流ID(off),輸入低電平電流IIL,輸入高電平電流IIH,靜態(tài)工作電源電流,雙向開關(guān)截止電流,關(guān)斷時間,導通電阻溫度漂移率,導通電阻路差率,開啟時間,通道轉(zhuǎn)換時間,導通態(tài)漏電流 IDS(on),導通電阻 RON,導通電阻路差 △RON,截止態(tài)源極漏電流IS(off),截止態(tài)漏極漏電流ID(off),輸出低電平電壓 VOL,輸出高電平電壓 VOH,靜態(tài)條件下的電源電流 IDD,導通電阻RON,截止態(tài)源極漏電流IS（OFF）,截止態(tài)漏極漏電流ID（OFF）,邏輯端輸入電流,導通態(tài)漏電流 IDS(on),導通電阻 RON,截止態(tài)源極漏電流 IS(off),截止態(tài)漏極漏電流 ID(off),靜態(tài)條件下的電源電流,導通態(tài)漏電流IDS(on),導通電阻Ron,導通電阻路差△Ron,截止態(tài)源極漏電流IS(off),截止態(tài)漏極漏電流ID(off),截止態(tài)源極漏電,導通態(tài)漏極漏電流,輸出高電平電壓VOH,輸出低電平電壓VOL,電源電流IDD,開啟時間ton,關(guān)斷時間toff,輸出高電平電壓,輸出低電平電壓

半導體集成電路模擬開關(guān)檢測流程：

1、確認樣品和需求

2,、制定方案

3,、報價

4、雙方確定,，簽訂保密協(xié)議,，開始實驗

5、3-15個工作日（特殊樣品除外）完成實驗

6,、出具檢測報告,，后期服務(wù)。

半導體集成電路模擬開關(guān)檢測標準：

1,、SJ/T 10741-2000 半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

2,、GB/T 14028-2018 半導體集成電路模擬開關(guān)測試方法的基本原理 5.2

3、GB/T 17574-1998 半導體集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998

4,、GB/T 17940-2000 半導體器件 集成電路 第3部分：模擬集成電路 第III篇第6節(jié) 5.1.1

5,、GB/T 14028-1992 半導體集成電路模擬開關(guān)測試方法的基本原理 條款2.6

6、GB/T14028-2018 半導體集成電路 模擬開關(guān)測試方法 5.1

7,、GB/T14028-2018/ 半導體集成電路模擬開關(guān)測試方法的基本原理 5.4

8,、GB/T 14028-2018 《半導體集成電路 模擬開關(guān)測試方法》 GB/T 14028-2018

9、GB/T 17574-1998 半導體集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路 第Ⅳ篇 第2節(jié) 2

10,、GB/T 17940-2000 半導體器件 集成電路 第3部分：模擬集成電路 GB/T 17940-2000

11,、SJ/T 10741-2000（CMOS） 半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 條款5.15

12、GB/T 14028-1992 半導體集成電路模擬開關(guān)測試方法的基本原理 GB/T 14028-1992

13,、SJ/T10741-2000 5.9 半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理

14,、SJ/T10741-2000 5.10 半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理

15、SJ/T 10741-2000 半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

16,、GB/T17574-1998 《半導體器件集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路》 第Ⅳ篇 第2節(jié) 1

半導體集成電路模擬開關(guān)檢測報告有什么用,？

銷售：出具檢測報告，提成產(chǎn)品競爭力,。

研發(fā)：縮短研發(fā)周期,，降低研發(fā)成本。

質(zhì)量：判定原料質(zhì)量,，減少生產(chǎn)風險,。

診斷：找出問題根源，改善產(chǎn)品質(zhì)量,。

科研：定制完整方案,，提供原始數(shù)據(jù)。

競標：報告認可度高,，提高競標成功率,。

關(guān)于半導體集成電路模擬開關(guān)檢測檢測內(nèi)容就介紹到這里。百檢網(wǎng)第三方檢測機構(gòu)期待與您的合作,，詳情請聯(lián)系百檢客服,。