咨詢電子器件試驗服務，上百檢網(wǎng),。我們會為您安排電子器件試驗工程師對接,，溝通電子器件試驗項目、標準,、周期等,，待方案確認后，即可開始樣品檢測,，出具電子器件試驗報告真實有效,，常規(guī)周期在3-15個工作日，特殊項目需在方案制定時詳細確認,，歡迎咨詢,。

檢測樣品：紡織品,、化妝品、食品,、農(nóng)產(chǎn)品,、絕緣工具、五金件等

報告資質(zhì)：CNAS/CMA/CAL

報告周期：常規(guī)3-15個工作日,，特殊樣品,、檢測項目除外。

檢測費用：根據(jù)檢測項目收費,，詳情請咨詢百檢網(wǎng),。

電子器件試驗項目：

SEM檢查,X射線檢查,X射線照相,內(nèi)部檢查,內(nèi)部目檢,剪切強度,可焊性試驗,聲學掃描顯微鏡檢查,聲學檢查,外部檢查,外部目檢,導電陽極絲試驗,封裝外部清洗,開封,彎曲試驗,掃描電子顯微技術和電子束顯微分析,扭力測試,整個器件的剖面,斷裂強度,樣品剖面制備,溶劑抵抗,潮濕敏感度測試,玻璃鈍化層完整性檢查,電分配,電子探針和X射線能譜定量分析,電子顯微技術,電遷移測試,端子強度,絕緣電阻測試,耐壓測試,耐焊接熱,錫須生長,鍵合強度,阻燃試驗,附加電氣試驗,靜電放電,預處理,芯片粘接的超聲檢測,加電溫度循環(huán)試驗,振動和掃頻試驗,溫度偏置工作壽命試驗,溫度沖擊試驗,溫度循環(huán)試驗,溫度濕度偏置循環(huán)壽命測試,鹽霧試驗,穩(wěn)態(tài)濕熱偏置壽命試驗,高加速壽命試驗,高加速無偏置壽命試驗,高加速蒸煮試驗,高溫存儲壽命試驗,元素含量(鉛、鎘,、鉻,、鋇、硒,、銻,、汞、砷,、鎳,、鈹、鉍,、銅,、鐵、鎂,、錳,、磷、錫,、鈦,、鋅、鈣,、銀,、鋁、鈷,、 鉬,、 硅、鈉,、鉀,、硼、鎵,、鈀,、鋰,、鉻、鍶,、銫,、釷、鈾),溫度濕度偏置與表面凝露循環(huán)壽命測試,密封,溫度循環(huán),穩(wěn)定性烘焙,粒子碰撞噪聲檢測試驗,老煉試驗,鹽霧,耐濕,內(nèi)部目檢（單片）,內(nèi)部目檢（混合電路）,恒定加速度,無源元件的目檢,破壞性物理分析（DPA）的內(nèi)部目檢,芯片剪切強度,鍵合強度（破壞性鍵合拉力試驗）,高溫電老煉,低氣壓（高空工作）,溫度循環(huán)（空氣介質(zhì)）,熱沖擊（液體介質(zhì)）,穩(wěn)態(tài)壽命,絕緣電阻,耐濕試驗,振動,間歇壽命,檢漏,電功率老化,X射線無損檢測,塑封器件的超聲掃描檢測,引線牢固性,機械沖擊,熱沖擊,密封-粗檢漏,密封-細檢漏,掃頻振動,低氣壓試驗,振動噪聲,振動疲勞,穩(wěn)定性烘焙試驗

電子器件試驗流程：

1,、咨詢工程師,，提交檢測需求。

2,、送樣/郵遞樣品,。

3、免費初檢,，進行報價,。

4、簽訂合同和保密協(xié)議,。

5,、進行方案定制、實驗,。

6,、出具實驗結果和檢測報告。

電子器件試驗標準：

1,、IPC TM-650 2.6.3.1E：2007 阻焊層防潮性絕緣電阻測試試驗方法手冊

2,、JESD22-A102E:2015 高加速蒸煮試驗

3,、GJB548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 方法1014.2

4,、MIL-STD- 202H-2015 電子電器部件測試標準 MIL-STD-202H-2015

5、AEC-Q200-006A-2010 端子強度（SMD）-剪切應力測試

6,、GJB128A-97 半導體分立器件試驗方法

7,、GJB 1187A-2001 射線檢驗

8、JESD 22-A101D.01:2021 穩(wěn)態(tài)濕熱偏置壽命試驗 JESD22-A101D.01:2021

9,、JEDEC JESD 22-A121A-2008 錫及錫合金表面錫須生長測量 JEDEC JESD22-A121A-2008(R2014)

10,、GJB548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 方法 2019.2

11、JESD22-A113h-2016 可靠性試驗之前不密閉表面安裝設備的預處理

12,、MIL-STD-883K-2018 微電路試驗方法標準 方法3015.9

13,、ISO/DIS 10605 道路車輛 靜電放電引起的電干擾的試驗方法

14、IPC/JEDEC J-STD-020E:2015 非密封固態(tài)表面安裝器件的濕度/回流敏感度分類

15,、JESD22-A108F:2017 溫度偏置工作壽命試驗

16,、AEC Q200-001B-2010 阻燃測試

17、 JESD22-A107C:2013 鹽霧試驗

18,、EIA 469E-2017 高可靠性陶瓷整體電容器破壞性物理分析的試驗方法 EIA 469E-2017

19,、JESD 22-A100E:2020 溫度濕度偏置與表面凝露循環(huán)壽命測試 JESD22-A100E:2020

20,、IPC TM-650 2.6.3.4A：2003 絕緣保護膜防潮性與絕緣電阻測試試驗方法手冊

電子器件試驗報告有什么用？

銷售：出具檢測報告,，提成產(chǎn)品競爭力,。

研發(fā)：縮短研發(fā)周期，降低研發(fā)成本,。

質(zhì)量：判定原料質(zhì)量,，減少生產(chǎn)風險。

診斷：找出問題根源,，改善產(chǎn)品質(zhì)量,。

科研：定制完整方案，提供原始數(shù)據(jù),。

競標：報告認可度高,，提高競標成功率。

關于電子器件試驗檢測內(nèi)容就介紹到這里,。如還有其他疑問,，歡迎致電咨詢，我們將竭誠為您服務,。