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發(fā)布時間:2023-11-30
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檢測周期:常規(guī)3-15個工作日,,特殊樣品除外,,在可行范圍內(nèi)可安排加急。
報告樣式:紙質(zhì),、電子版,、中英文均可。
掃描電子顯微鏡檢查SEM
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1、MIL-STD-1580B 電氣,、電子和機電元器件破壞性物理分析方法
2,、GJB4027A-2006 軍用電子元器件破壞性物理分析方法
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7,、MIL-STD-750F 半導(dǎo)體分立器件試驗方法和程序 方法2077
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2、 進入大型超市或賣場,。
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