硅片測試如何辦理?硅片測試檢測項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些?百檢檢測可為您提供材料等相關(guān)檢測服務(wù),。

檢測周期:3-15個(gè)工作日(可加急)

報(bào)告資質(zhì)：CNAS,、CMA、CAL等

硅片測試范圍:

單晶硅片,，太陽能硅片,，光伏硅片，半導(dǎo)體硅片，切割硅片,，鍍膜硅片,，清洗硅片，拋光硅片等,。

硅片測試項(xiàng)目:

電阻率測試,，翹曲度測試，厚度測試,，表面粗糙度測試,，燃燒測試，彎曲度測試,，平整度測試,，絨面反射率測試，碳氧含量檢測,，壓電系數(shù)測試,，ECV測試，負(fù)載測試,，硬度測試,，抗彎強(qiáng)度測試,，晶圓測試,，表面雜質(zhì)測試，表面有機(jī)物測試,，少子壽命測試,，顆粒度測試，表面接觸角測試等,。(更多項(xiàng)目需求,，您可咨詢?cè)诰€實(shí)驗(yàn)室工程師，為您詳細(xì)解答,。)

硅片測試標(biāo)準(zhǔn):

GB/T29055-2019太陽能電池用多晶硅片

GB/T26068-2018硅片和硅錠載流子復(fù)合壽命的測試　非接觸微波反射光電導(dǎo)衰減法

GB/T37051-2018太陽能級(jí)多晶硅錠,、硅片晶體缺陷密度測定方法

GB/T32814-2016硅基MEMS制造技術(shù)　基于SOI硅片的MEMS工藝規(guī)范

GB/T24578-2015硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測試方法

GB/T32280-2015硅片翹曲度測試自動(dòng)非接觸掃描法

GB/T32281-2015太陽能級(jí)硅片和硅料中氧、碳,、硼和磷量的測定　二次離子質(zhì)譜法

GB/T30859-2014太陽能電池用硅片翹曲度和波紋度測試方法

GB/T30860-2014太陽能電池用硅片表面粗糙度及切割線痕測試方法

GB/T30869-2014太陽能電池用硅片厚度及總厚度變化　測試方法

GB/T30701-2014表面化學(xué)分析　硅片工作標(biāo)準(zhǔn)樣品表面元素的化學(xué)收集方法和全反射X射線熒光光譜法(TXRF)測定

GB/T29505-2013硅片平坦表面的表面粗糙度測量方法

GB/T29507-2013硅片平整度,、厚度及總厚度變化測試　自動(dòng)非接觸掃描法

GB/T6616-2009半導(dǎo)體硅片電阻率及硅薄膜薄層電阻測試方法　非接觸渦流法

GB/T6617-2009硅片電阻率測定　擴(kuò)展電阻探針法

GB/T6618-2009硅片厚度和總厚度變化測試方法

GB/T6619-2009硅片彎曲度測試方法

檢測流程步驟

1、電話溝通,、確認(rèn)需求,；

2、推薦方案,、確認(rèn)報(bào)價(jià),；

3、郵寄樣品、安排檢測,；

4,、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋,；

5,、出具報(bào)告、售后服務(wù),；

6,、如需加急、優(yōu)先處理,；

百檢網(wǎng)是一家綜合性檢測服務(wù)平臺(tái),匯集眾多CNAS,、CMA、CAL等資質(zhì)檢測機(jī)構(gòu)遍布全國各地,更多檢測需求請(qǐng)聯(lián)系咨詢百檢相關(guān)客服.